Nøgleord
Materialefysik
Mikrostruktur
Citation/Eksport
Resumé
Artiklen er en tour de force i transmissionselektronmikroskopiens mange anvendelser – fra billeddannelse af scanningstunnelnåle til analyse af supergitre og krystaldefekter. Tholén viser, hvordan klassisk optik, kvantemekanik og relativitetsteori forenes i instrumentet, og hvordan detaljer i nanoskala kan afsløres ved hjælp af diffraktion og højopløsningsmikroskopi. Gennem illustrative eksempler – blandt andet på bøjningskonturer i superledende materialer – bliver det klart, at mikroskopet ikke blot er et værktøj, men et forskningsfelt i sig selv. En intens og lærerig artikel, hvor fysik og præcision går hånd i hånd.
Referencer
[1] J. Garnæs, F. Kragh, K. A. Mørch og A. R. Tholén, "Transmission electron microscopy of tunneling tips", J. Vac. Sci. Technol., A8(1), side 441, Jan/Feb 1990.
https://doi.org/10.1116/1.576417
[2] M. D. Bentzon, J. van Wonterghem, S. Mørup, A. Tholén og C. J. W. Koch, "Ordered Aggregates of Ultrafine Iron Oxide Particles: 'Super Crystals'", Phil. Mag. B, bind 60, nr. 2, side 169 (1989).
https://doi.org/10.1080/13642818908211188
[3] A. Tholén, "The buckling of thin electron microscope specimens", Proc. of the XII:th International Congress for Electron Microscopy, Seattle 1990, San Francisco Press, bind 4, side 50.
Fra og med årgang 37 (2026 -) udgives artikler under licensen Creative Commons Kreditering-IkkeKommerciel CC BY-NC 4.0.
Artikler i årgang 1–36 (1990 - 2025) er ikke udgivet under Creative Commons. Her er alle rettigheder forbeholdt artiklernes respektive forfattere.